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光学表面测量:高效、快速、精确

营销团队
Mahr 重新推出了 MarSurf CM explorer 产品系列中的高性能共聚焦显微镜。

Mahr 重新推出了 MarSurf CM explorer 产品系列中功能强大的共聚焦显微镜。利用紧凑型台式系统,您可以在无接触的情况下对表面进行三维测量,不受材料限制,而且测量速度极快,精度极高。

由于设计坚固耐用且对环境影响不敏感,该设备适用于测试和检验实验室以及生产过程中的质量保证。共聚焦显微镜可在几秒钟内对金属、玻璃、陶瓷、半导体、聚合物或有机材料等几乎所有材料进行精确和可重复的三维测量。

光学系统的应用领域同样多种多样。它们可用于符合 DIN EN ISO 21920 / 25178 标准的粗糙度测量、形貌测量(如体积、磨损、各向同性)或微观几何形状和层厚度测量。这些设备可确定可定量溯源的 3D 特性值,因此适用于许多行业,例如

  • 汽车工业
  • 机械工程
  • 电子和半导体行业
  • 微系统技术
  • 光学
  • 医疗技术
  • 材料管理

两种型号可供选择

MarSurf CMexplorer产品系列为您提供独立于用户的全自动测量,行程距离为 100 x 100 mm,因此操作简单。根据您的要求和测量任务,您可以选择 MarSurf CMexplorer100 或 MarSurf CMplus explorer100 这两种型号,它们都具有极高的重复精度。

获得专利的多针孔技术可实现超快速图像采集

由于采用了专门开发的专利多针孔技术,共聚焦显微镜可在高测量点密度下保证超快的图像采集性能。这是一种特别低噪声的工艺,可确保获得未经过滤的高质量原始数据。此外,这些设备还具有高分辨率、最高的坚固性、边缘接受能力和动态性能。此外,它们还具有杂散光极低、信号稳定、光产率高等特点。因此,它们可以达到纳米级的高度分辨率。

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