光学轮廓仪

面向工业和研究领域的表面计量方法

非接触,与材料无关,而且速度快

成熟的全能设备

因为采用模块化设计,所以该测量系统能够根据各种测量任务和自定义自动化要求进行调整。根据测量任务的不同,可方便灵活地选择不同的传感器和轴系统。因此,可以轻松、多样地根据 ISO 4287 和 ISO 25178评估几何特征、粗糙度、层厚和许多其他应用。

Download the brochure now for free!

The brochure "Optical Metrology for Surface Analysis" from Mahr informs you on 92 pages about application areas, measuring technologies and software solutions and goes into dedicated detail about the portfolio.

返回顶部