MarSurf3D | 3D 表面测量

MarSurf3D CM plus explorer 100

产品货号 6350027

快速且高度精确 – 全新 MarSurf CM explorer 系列

全新 MarSurf CM explorer系列是一款终极共焦显微镜,用于表面的精确三维测量和分析 - 无接触,不受材料影响,而且速度快

MarSurf3D CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
灵活的全方位测量解决方案

强大的 MarSurf CM 设备代表着可对所有表面进行可靠测量 - 它们为用户提供高分辨率和最大的坚固性、边缘接受度和动态特性。
此外,最先进的工具允许以较高的测量点密度进行超快测量(比以前快 4 倍),从而确保提供高质量且未经过滤的原始数据。
通过选择满足最高要求的 CM explorer 或 CM plus explorer 型号,系统能够根据您的应用进行调整,可重复性和测量确定性提高多达 2 倍。

典型测量任务
  • 粗糙度测量符合
    ISO 21920 / 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、均向性)
  • 轮廓和形状 (2D, 3D)
  • 孔,颗粒分析
  • 缺陷检测
  • ...
最高数据质量

我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、过程设计和质量控制领域的定量测量值等。
MarSurf3D CM plus explorer 100
| 产品编号 6350027
物镜放大倍数 5x - 100x
最大样品重量 10 kg
光源 高性能 LED(505 nm / 白)
样品高度 70 mm(应要求提供)
样本表面 反射率 0.1 - 100%,有涂层,无涂层,高反射到漫反射
测量噪音(Piezo 模块) 1 nm
测量噪音(定位装置) 5 nm
定位量 x 100 mm
定位量 y 100 mm
定位量 z 70 mm
语言 德语 , 英语 , 法语 , 意大利语 , 西班牙语 , 葡萄牙语 , 波兰语 , 俄语 , 土耳其语 , 中文 , 日语 , 韩语
定位量 x y z 的添加 可根据要求扩展 z 定位音量

我们产品的各种应用

机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量

电子和半导体
亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷

医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证

材料科学
新表面和产品的功能属性的优化

微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
准确,可重复的测量
您的测量数据将可靠地记录、可以复制,并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。
可测的工件范围广泛
测量不受材料影响,不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明,都能进行测量。
直观的操作
简单的用户引导界面,所有重要测量参数都有自动模式,包括对已知表面使用测量方案。
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