MarSurf | 3D 表面测量

MarSurf CM expert

产品货号 6350002

高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert 是强大的可配置型共聚焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 - 非接触,不受材料影响,而且速度快。 

MarSurf CM <i>expert</i>
MarSurf CM <i>expert</i>
高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 
额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。 
典型测量任务
  • 粗糙度测量符合
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)
  • 轮廓和形状 (2D, 3D)
  • 孔,颗粒分析
  • 缺陷检测
  • ...
最高数据质量

我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。

我们产品的各种应用

机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量

电子和半导体
亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷

医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证

材料科学
新表面和产品的功能属性的优化

微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
准确,可重复的测量
您的测量数据将可靠地记录、可以复制,并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。
测量程序可自由编辑
全自动、基于数据库的模板测量,具有自动的测量和评估程序(取决于用户的一键式解决方案)。
直观的操作
简单的用户引导界面,所有重要测量参数都有自动模式,包括对已知表面使用测量方案。
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