MarSurf | 3D 表面测量

MarSurf CM explorer

产品货号 6350000

灵活的全方位测量解决方案

MarSurf CM explorer 是紧凑型 共聚焦共焦 显微镜,用于对表面进行准确的三维测量和分析 - 非接触,与材料无关,而且速度快.

MarSurf CM <i>explorer</i>
MarSurf CM <i>explorer</i>
灵活的全方位测量解决方案

MarSurf CM explorer 有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。
典型测量任务
  • 粗糙度测量符合
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • 表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)
  • 轮廓和形状 (2D, 3D)
  • 孔,颗粒分析
  • 缺陷检测
  • ...
最高数据质量

我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。

我们产品的各种应用

机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量  

电子和半导体
亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷

医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证

材料科学
新表面和产品的功能属性的优化

微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
准确,可重复的测量
您的测量数据将可靠地记录、可以复制,并确保原始数据和轮廓精度有最高的质量。
可测的工件范围广泛
测量不受材料影响,不管几何形状和表面特性是反射性、吸收性、不透明还是透明,都能进行测量。
直观的操作
简单的用户引导界面,所有重要测量参数都有自动模式,包括对已知表面使用测量方案。
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