MarSurf
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CM explorer
灵活的全方位测量解决方案
MarSurf CM explorer 是一款 紧凑且易于使用的完整机型 ,可用于对表面的精确测量和分析。
- 即使是在全分辨率下也可实现高测量速度
- 通过碰撞检测确保安全
- HDR 功能(16 位)
- 高清拼接:即使测量面积很大,也能保持高分辨率
MarSurf
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CM explorer
对用户友好的有效测量
使用 MarSurf CM explorer 的测量采用 非接触方式,快速且简单,只需几个功能步骤。测量系统配备 HDR 功能、全空间方向自动镜头检测和碰撞检测 。
MarSurf
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CM explorer
多用途使用
这个灵活的光学测量系统已成功用于 粗糙度、 表面特征测量 以及 微观几何 和 层厚度 的测量。其用于汽车工业、医疗技术、微电子、钢铁工业和光学等行业。
MarSurf
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CM explorer
高清拼接:即使测量面积很大,也能保持高分辨率
借助高清拼接功能,可以将无数的单幅图像组合成全分辨率的大型整体图像。您可以灵活选择图像区域。实用:拼接测量是使用电动 X、Y 和 Z 轴全自动进行。
3D 表面分析
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MarSurf CM mobile
配备高分辨率 HDR 相机的便携式测量系统 MarSurf CM mobile - 随时随地测量
- 最新的 16 位 HDR 相机
- 像素密度提高 5 倍
- 2 nm 最高垂直分辨率
- 以纳米精度进行过程安全的粗糙度测量
- 全分辨率下 100 fps 高测量速度
3D 表面分析
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MarSurf CM mobile
MarSurf CM 实际使用
该影片示范性地展示了如何使用便携式 MarSurf CM 进行移动测量。
一个考虑周全的系统—从 实用的棱柱支架到用于分析和记录的直观软件。
3D 表面分析
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MarSurf CM expert
使用 MarSurf CM expert 的可追溯 3D 特征值:快速、稳定和精确
Mahr 的共聚焦显微镜可在几秒钟内提供准确且可重复的 3D 测量值。这适用于几乎所有材料—无论是金属、玻璃、 陶瓷、半导体还是聚合物。
3D 表面分析
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MarSurf CM expert
直观的操作、快速的评估和出色的报告
用于表面分析的 MarSurf MfM 软件提供了一整套功能,可显示和分析结构、粗糙度、波纹度、台阶高度、轮廓和其他表面特征。