MarSurf
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CM select
模块化和个性化：专用于测量的共聚焦技术
通过我们的模块化 多传感器系统 ，您可以自己设计理想的测量设备：
- 可根据需要单独配置或选择全自动化
- 多传感器技术；从各种额外传感器中选择
- 大量的硬件和软件组件选择
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CM select
一台设备，多种技术
运用各种可能性，将不同的传感器技术组合成一个测量设备中的 多传感器系统 。
用户可以根据测量任务灵活选择最佳传感器。为了最大限度地方便使用，标准传感器可以通过一个软件进行控制。
MarSurf
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CM select
激励您的价值观
- 垂直光学分辨率 2 nm
- 与非接触式测量数据的最高相关性 99 % CCF 最大值
- 所有样品表面的反射率 0.1 - 100
- LED 光源 50,000 MTBF
- 最大测量频率点传感器 4,000 Hz
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CM expert R
从特殊解决方案到成熟的全能方案
这种具有集成旋转/回转单元 的成熟 五轴系统可用于测量非旋转对称工件的表面—例如医疗植入物或挤压部件。得益于可扩展的旋转和回转轴，您可以垂直测量所有工件的 表面。
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CM expert R
可定制以获得更多可能性
您有特别大的工件或非常重的工件吗？没问题，我们会根据您的要求调整测量设备的轴系统，以便为您提供理想的测量解决方案。我们创建 客户特定的样品夹具和支架系统， 或为您提供 用于集成的接口。